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激光显微镜干涉测量 去马赛克插值（Demosaicing I...

一、白光干涉测量优选黑白CMOS的核心技术逻辑工业级白光干涉仪普遍标配黑白CMOS。彩色CMOS的硬件结构与去马赛克插值算法会产生固有测量误差，破坏干涉条纹精度，...

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2026

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光学轮廓测量在火电高温主蒸汽阀平面度检测中的应用

高温主蒸汽阀（High-temperature Main Steam Valve）是火电机组热力系统核心承压密封部件，其阀座密封面平面度（Flatness）直接决...

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MLCC 银浆厚度标准化检测方法（Detection Met...

多层陶瓷电容器（Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC）端电极银浆厚度，是管控器件焊接可靠性与电学稳定性的关键工艺指标，厚度均匀性...

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微透镜 厚度均匀性 (Thickness Uniformi...

微透镜（Microlens）及微透镜阵列是光电成像、半导体光学器件的核心微结构，其厚度均匀性（Thickness Uniformity）直接决定光束耦合精度、成像...

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