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2025

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0.1nm 垂直分辨率：新启航 3D 白光干涉仪如何让光学表...

一、引言光学表面缺陷，如纳米级划痕、凹陷、凸起等，对精密光学仪器性能影响极大。传统检测设备因垂直分辨率不足，难以精准识别微小缺陷。新启航3D 白光干涉仪凭借 0...

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2025

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纳米测量 “卡脖子” 突围：新启航打破欧美设备垄断的三大战役

一、引言在半导体、精密制造等高端领域，纳米级测量装备长期被欧美企业垄断，ZYGO、赛默飞世尔等巨头占据全球 90% 以上市场份额。其设备价格高昂、技术封锁严密，...

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2025

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国产装备 “精度革命”：新启航凭何定义半导体测量新基准？

一、引言半导体制造对测量精度的要求随着制程升级不断提升，传统测量装备已难以满足7nm 及以下制程的检测需求。长期以来，国外企业主导高端半导体测量装备市场，其技术...

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2025

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3D 白光干涉仪成本 “腰斩” 之路：新启航让纳米级检测从小...

一、引言在半导体、精密制造等高端产业升级浪潮中，3D 白光干涉仪作为纳米级表面检测的核心设备，其需求持续攀升，2024 年中国市场规模已达 25 亿元，且半导体...

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