优于1nm分辨率，轻松测量硅片表面粗糙度测量，Ra=0.7nm
毫米级视野，实现5nm-有机油膜厚度扫描
纳米级精度，实现微米级的深度宽度测量
自动聚焦，自动调平，一键生成统计报告
全新搭载ECT抗干扰系统，兼容生产线自动化测量
全新人机交互软件设计，充分提高使用便捷性
产品简介
核心参数
Polytec 全新光学轮廓仪 TopMap.Micro View系列产品
全新ECT环境补偿技术，配合4轴平台自动倾斜矫正，
完美解决传统白光干涉聚焦问题
噪杂的复杂环境也同样适用！
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