外置式超长距离减薄厚度测量 - 新启航半导体有限公司

外置式超长距离减薄厚度测量

第三代扫频SS-OCT技术

大于1m距离下，实现纳米精度测量

外置式超长距离减薄厚度测量

全新第三代OCT技术，扫频光源SS-OCT技术原理图

外置式超长距离减薄厚度测量

基于SS-OCT，实现Z轴重复精度优于1nm的检测能力，满足非接触式，非破坏测量要求

外置式超长距离减薄厚度测量

相比稳频激光器拥有更优越的环境抗干扰能力

外置式超长距离减薄厚度测量

大于1m的工作距离，可实现超长工作距离的纳米精度测量要求

外置式超长距离减薄厚度测量

灵活便携的外置安装设计，匹配适用各种装配场景

外置式超长距离减薄厚度测量

多个光学探头搭配，极大提高整体检测效率

激光焊接熔深监控

全新第三代OCT技术，扫频光源SS-OCT技术原理图

激光焊接熔深监控

基于SS-OCT，实现Z轴重复精度优于1nm的检测能力，满足非接触式，非破坏测量要求

激光焊接熔深监控

相比稳频激光器拥有更优越的环境抗干扰能力

激光焊接熔深监控

大于1m的工作距离，可实现超长工作距离的纳米精度测量要求

激光焊接熔深监控

灵活便携的外置安装设计，匹配适用各种装配场景

激光焊接熔深监控

多个光学探头搭配，极大提高整体检测效率

产品参数

非标参数请与工程师联系:18565137375

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