白光干涉划线轮廓测量,抑制钙钛矿电池漏电、降低串联电阻
发布时间:
2026-05-11
作者:
新启航半导体有限公司

1 钙钛矿电池划线轮廓质量对漏电与串联电阻的影响

钙钛矿电池模组制备核心工序中,激光划线刻蚀是实现电池单元精准分割、层间电路串联互联的关键工艺,划线沟槽的轮廓规整度、刻蚀深度一致性、侧壁平整度及边缘完整性,直接关乎电池电学性能核心指标。若划线存在刻蚀残留、沟槽侧壁毛刺过度、刻蚀深浅不均、边缘薄膜破损等形貌缺陷,极易造成电池层间微短路,引发器件漏电电流飙升;同时,不规则的划线接触界面会增大电路传输接触损耗,直接导致电池串联电阻大幅升高,不仅削弱电池光电转换效率,还会加速组件长期工作功率衰减,降低产品服役寿命与量产良率。因此,精准管控激光划线微观轮廓形貌,是从工艺源头抑制漏电、压降串联电阻的核心管控要点。

2 传统划线轮廓检测工艺的应用弊端

目前钙钛矿电池量产常用的常规检测方式,难以满足划线轮廓高精度电学适配管控需求。普通光学显微镜仅能实现划线表面二维宏观外观观测,无法量化沟槽深度、侧壁微观粗糙度及刻蚀台阶偏差,难以识别隐性形貌缺陷;接触式轮廓仪依靠探针接触采样,易划伤钙钛矿光敏薄膜与导电层结构,造成样品不可逆损坏,且仅能单点采集二维数据,无法全面表征划线全域三维轮廓特征。传统检测模式数据精度低、检测效率慢,无法精准关联轮廓形貌与漏电、串联电阻电学参数,难以支撑工艺实时调校优化。

3 白光干涉仪划线轮廓精准测量专项解决方案

白光干涉仪基于非接触式短相干干涉测量原理,适配钙钛矿电池激光划线全尺寸、全形貌高精度无损检测需求。设备单次扫描即可快速采集划线沟槽刻蚀深度、侧壁粗糙度、边缘轮廓平整度及刻蚀均匀度等全维度参数,同步生成高清三维形貌云图,精准识别微刻蚀残留、侧壁畸变等隐性缺陷。依托量化检测数据,可精准指导激光划线功率、扫描轨迹、刻蚀速度等工艺参数优化,规整划线微观轮廓,彻底消除层间短路诱发隐患,有效抑制电池漏电问题,优化电路接触导通性能,稳步降低串联电阻,全面提升钙钛矿电池光电转化效率与量产稳定性。新启航 专业提供综合光学3D测量方案。

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涂层表征实测应用图示

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(图示为实测涂层厚度,精准测得75.2nm,为涂层厚度一致性管控提供可靠数据支撑)

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(图示为涂层厚度专项测量,清晰呈现涂层厚度分布,助力涂层工艺优化)

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(图示为涂层划痕分析,测得划痕厚度1.96μm,精准捕捉涂层划痕细节,为涂层缺陷检测与耐用性评估提供依据)

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